Структурные дефекты и их распределение в кубических кристаллах алмаза II разновидности из россыпей северо-востока Сибирской платформы по данным ИК микроспектроскопии
Методом ИК-микроспектроскопии изучены ювелирные алмазы кубического габитуса из россыпей северо-востока Сибирской платформы. Помимо основных А-, С-дефектов и в ряде случаев вероятно В-дефектов, в изученных алмазах присутствуют также центры X (ион N+), и Y [Hainschwang et al., 2012], пики в интервале 1350-1380 см-1, янтарные дефекты (Amber center) разных типов. Согласно интегральным спектрам целых кристаллов, данные алмазы характеризуются невысоким содержанием структурных примесей азота в диапазоне 60-265 ppm. Спектроскопическое исследование пластин с пространственным разрешением показало исключительно неоднородное распределение азотных дефектов по объёму всех изученных алмазов. Общей закономерностью для них является падение как общего количества азота, так и относительной доли основного А-дефекта от центра к периферии кристалла; концентрация азота в центре может достигать 990 ppm, что существенно превышает данные интегрального анализа. В периферических зонах изученных кристаллов появляются С-, Y-, Х-, и янтарные дефекты. Их сохранность свидетельствует о малой продолжительности пост-ростового отжига этих алмазов. Обсуждается генетическое значение полученных данных о структурных дефектах для реконструкции условий роста и посткристаллизационного отжига изученных кристаллов алмаза.